Sumitomo 200 µm B1.3 SM ไฟเบอร์ (G.652.D)

รายละเอียดสินค้า

การลดทอน

การผลิตผลิตภัณฑ์

การลดทอนเทียบกับความยาวคลื่น

การเปลี่ยนแปลงการลดทอนสูงสุดเหนือหน้าต่างจากการอ้างอิง

บรรจุภัณฑ์สินค้า

จุดไม่ต่อเนื่อง

จุดไม่ต่อเนื่องไม่เกิน 0.02dB ที่ 1310nm หรือ 1550nm

ความสม่ำเสมอของการลดทอน

หากความยาวเส้นใย ≥2.15กม. ค่าความแตกต่างของการลดทอนส่วนและการลดทอนโดยเฉลี่ยจะไม่เกิน 0.03dB/กม.

ขนาดและพารามิเตอร์ทางแสง

รายการ	ข้อมูลจำเพาะ
MFD (1310 นาโนเมตร) มม	9.20±0.40
MFD (1550 นาโนเมตร) มม	10.40±0.50
เส้นผ่านศูนย์กลางฝา มม	125.0 ±0.7
การหุ้มไม่มีวงกลม %	≤1.0
การหุ้มถึงข้อผิดพลาดศูนย์กลางศูนย์กลางมม	≤0.5
เส้นผ่านศูนย์กลางเคลือบรอง มม	180~210
การเคลือบทุติยภูมิถึงข้อผิดพลาดของศูนย์กลางการหุ้ม มม	≤10.0

ความยาวคลื่นตัดออก

ไฟเบอร์ 2 ม. ความยาวคลื่นตัดขาด µc นาโนเมตร	1150≤lac≤1330
สายเคเบิลยาว 22 ม. ความยาวคลื่นตัดสูงสุด µcc สูงสุด นาโนเมตร	1260

การสูญเสียการดัดแบบมาโคร

เส้นผ่านศูนย์กลางจากสักหลาด (มม.)

ตัวเลข

จำนวนรอบ

ความยาวคลื่น

(นาโนเมตร)

การลดทอนเหนี่ยวนำ (dB)

100

1625

≤0.10

การกระจายตัวของสี

ความยาวคลื่นการกระจายตัวเป็นศูนย์ l₀nm	13.00~1324
สโลป ส₀ปล./(น².กม.)	0.073~0.092
ที่ 1288~1339nm, D(l) ps/(nm.km)	≤3.5
ที่ 1271~1360nm, D(l) ps/(nm.km)	≤5.3
ที่ 1550nm , D(l) ps/(nm.km)	13.3~18.6
ที่ 1625nm , D(l) ps/(nm.km)	17.2~23.7
ค่าสัมประสิทธิ์ PMD PS/กม^1/2	≤0.2 (ค่าไฟเบอร์)
ค่าสัมประสิทธิ์ PMD PS/กม^1/2	≤0.1 (ค่าลิงก์)

ข้อกำหนดทางกล

รายการ	ข้อมูลจำเพาะ
การทดสอบการพิสูจน์	ความเครียด≥2.0% (ความเครียดที่พิสูจน์ได้ 19.6N)
แรงเคลือบแถบ N	จุดสูงสุด 1.0≤F≤8.9 เฉลี่ย 1.0≤F≤5.0
ความเหนื่อยล้าแบบไดนามิก Nd	≥20
ความต้านทานแรงดึง (ค่ามัธยฐาน) สำหรับความยาวชิ้นงาน 0.5 ม. (Gpa)	ความน่าจะเป็นของไวบูล 50%	≥3.8
	ความน่าจะเป็นของไวบูล 15%	≥3.14
ไฟเบอร์ขด R (ม.)	≥4

ข้อกำหนดด้านสิ่งแวดล้อม

เงื่อนไขการทดสอบด้านสิ่งแวดล้อม	การลดทอนสัญญาณเหนี่ยวนำ (dB/กม.)
	1550 นาโนเมตร	1625 นาโนเมตร
การพึ่งพาอุณหภูมิ -60⁰ซี ถึง 85⁰C	≤0.05	≤0.05
อายุความร้อนและความชื้น 85±2⁰C, RH> 85%, 30 วัน	≤0.05	≤0.05
การแช่น้ำ 23+/-2⁰ค 30 วัน	≤0.05	≤0.05
ความร้อนแก่ 85+/-2⁰ค 30 วัน	≤0.05	≤0.05